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XM001L低频振动校准测试系统

XM001L低频振动校准测试系统

商品详情

性能特点

技术参数

高温高加速度振动校准测试系统融合了先进的振动传感器校准和测试技术,采用空气轴承高频和低频标准振动台实现频率响应的校准和测试;采用温度基准级高温炉和大推力振动台实现振动传感器及其配套线缆和卡具的温度响应校准和测试;采用谐振放大原理,实现振动传感器常温和高温环境下的高加速度振动校准。系统配置如下:

XM001L低频振动校准测试系统

XM001L低频振动校准测试系统:

频率范围:(0.01 ~100)Hz;

行程:400 mm;

负载:>10 kg;

失真度:≤5%;

横向振动比:≤10%;

工作方向:垂直和水平;

信号分析位数:24位;

信号分析仪动态范围:≥100 dB;

电压比测量误差:0.5%;

相位差测量误差:0.5°;

谐振频率测试范围:≥20 kHz;

测量不确定度:0.5~10% (k=2)。

配置:低频标准振动台、低频振动控制系统、低频振动校准系统等。


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